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功率半导体器件CV测试系统
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功率半导体器件CV测试系统
普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR 表支持的测量频率范围在 0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。
服务承诺:厂家直销、服务及时
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  • 测试频率 10Hz-1MHz
  • 频率输出精确度 ±0.01%
  • 基本准确度 ±0.05%
  • AC测试信号准位 10mV至2Vrms (1m Vrms 解析度)
  • DC测试信号准位 10mV至2V (1m Vrms 解析度)
  • 輸出阻抗 100Ω


普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成LCR表支持的测量频率范围在 0.1Hz~1MHz源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置通过矩阵开关加载在待测件上进行C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值

系统优势

频率范围宽频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调

高精度、大动态范围:提供0V~3500V偏压范围,精度0.1%

内置CV测试:内置自动化CV测试软件,包含C-V(电容- 电压),C-T(电容- 时间),C-F(电容 - 频率)等多项测试测试功能;

兼容IV测试:同时支持击穿特性以及漏电流特性测试;

实时曲线绘制:软件界面直观展示项目测试数据及曲线,便于监控;

扩展性强系统采用模块化设计,可根据需求灵活搭配




半导体参数测试,尤其是MOS CAP和MOSFET结构的半导体器件或材料

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