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推出探测器组件测试分选一体机、CHIP测试机 EML航测、LD高温盘测、波长计; 推出“高精度插卡式源表”、“高精度台式脉冲源表”、“窄脉冲电流源表”。
推出SMU数字源表电源COB/BOX测试方案; 200G/400G模块测试方案、TO-CAN高低温盘测测试系统、光模块在线老化系统; 武汉普赛斯仪表有限公司独立运营;
推出PAM4高速误码仪、TO全线自动化设备、EMLCOC老化测试系统、高温TO自动盘测设备、消光比测试仪等。
推出COC老化测试系统、100G模块测试方案、64路发射接收TO盘测、TO一体化老化监测系统2017、三向/四向器件测试系统。
推出突发误码测试系统、100G误码测试系统，EML器件的耦合与测试系统、定位回测测试系统、BOB系统的插卡机箱组合测试方案，BOSA器件自动安装波片系统、便携式工程设备维护测试系统等。
推出10G的BOSA综合测试系统片系统、便携式工程设备维护测试系统等。 TO激光焦距测试系统、BAR条自动测试系统、插卡式机箱系列仪表。
获武汉市“351”光谷人才计划资助;
TO器件自动化测试方案推出;
TO器件系列老化控制系统产品推出;
投入30人研发团队进行半导体测试仪表研发;
获国家高科技企业证书;
BOSA综合测试、程控光衰减器、光功率计等产品推出;
自动化测试项目立项;
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自动化测试项目立项;
误码仪、PIV、LIV、调制光源等被多家用户采用
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